检测样品：晶体管

检测项目：指标检测，击穿检测，性能检测等。

检测周期：7-15个工作日(参考周期)

检测标准参考

ASTM E1855-2010使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损失监视器的试验方法

ASTM F996-2011利用亚阀值电流-电压特性将由于氧化物封闭孔和界面状态引起的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阀值电压漂移分离成若干分量的试验方法

BS EN 120003-1993电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范.光电晶体管、光电复合晶体管、光电晶体管阵列

BS EN 120004-1993电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范:规定环境的有光电晶体管输出的光电耦合器

BS EN 150003-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.低频放大用管壳额定双极晶体管

BS EN 150004-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.开关用双极晶体管

BS EN 150007-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.高频放大用管壳额定的双极晶体管

BS EN 150012-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.单栅场效应晶体管

BS IEC 60747-4-1-2000微波二极管和晶体管.微波场效应晶体管.空白详细规范

BS IEC 60747-4-2-2000半导体器件.分立器件.微波二极管和晶体管.集成电路微波放大器.空白详细规范

BS IEC 60747-8-4-2004半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管

BS IEC 60747-8-2000半导体器件 第8部分:场效应晶体管 替代BS 6493-1.8:1985

BS IEC 60747-9-2007分立半导体器件和集成电路.隔离栅二极晶体管(IGBTs)

CB/T 3435-2013船用继电器修理要求

CECC 20 004- 001 ED 1-1984环境额定光电晶体管输出光电耦合器

CECC 20 004- 002 ISSUE 3-1987环境额定光电晶体管输出光电耦合器

CECC 20 004- 003 ED 1-1988环境额定光电晶体管输出光电耦合器

CECC 20 004- 004 ISSUE 1-1984环境额定光电晶体管输出光电耦合器

CECC 20 004- 006 ISSUE 1-1988SFH601输出光电晶体管光电耦合器

CECC 20 004- 007 ISSUE 1-1988SFH610,SFH611输出光电晶体管光电耦合器

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